IEC 63068-2-2019 PDF
Name in English:
St IEC 63068-2-2019
Name in Russian:
Ст IEC 63068-2-2019
Description in English:
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 2- Test method for defects using optical inspection. IEC 63068-2:2019-01(en). Original standard IEC 63068-2-2019 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Критерии неразрушающего распознавания дефектов в гомоэпитаксиальной пластине карбида кремния для силовых устройств - Часть 2- Метод проверки дефектов с использованием оптического контроля. IEC 63068-2:2019-01(en). Оригинальный стандарт IEC 63068-2-2019 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
30
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec07906
More technical details are being prepared for this document.