IEC 63068-4-2022 PDF
Name in English:
St IEC 63068-4-2022
Name in Russian:
Ст IEC 63068-4-2022
Description in English:
Semiconductor devices - Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices - Part 4- Procedure for identifying and evaluating defects using a combined method of optical inspection and photoluminescence. IEC 63068-4:2022-07(en). Original standard IEC 63068-4-2022 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Критерии неразрушающего распознавания дефектов в гомоэпитаксиальной пластине карбида кремния для силовых устройств - Часть 4- Процедура выявления и оценки дефектов с использованием комбинированного метода оптического контроля и фотолюминесценции. IEC 63068-4:2022-07(en). Оригинальный стандарт IEC 63068-4-2022 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
30
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec07908
More technical details are being prepared for this document.