IEC 63229-2021 PDF
Name in English:
St IEC 63229-2021
Name in Russian:
Ст IEC 63229-2021
Description in English:
Semiconductor devices - Classification of defects in gallium nitride epitaxial film on silicon carbide substrate. IEC 63229:2021-04(en). Original standard IEC 63229-2021 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Полупроводниковые приборы - Классификация дефектов эпитаксиальной пленки нитрида галлия на подложке из карбида кремния. IEC 63229:2021-04(en). Оригинальный стандарт IEC 63229-2021 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Active
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
26
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
3 business days
SKU:
stiec08036
More technical details are being prepared for this document.