IEC PAS 62162-2000 PDF
Name in English:
St IEC PAS 62162-2000
Name in Russian:
Ст IEC PAS 62162-2000
Description in English:
Field-induced charged-device model test method for electrostatic discharge withstand thresholds of microelectronic components. Original standard IEC PAS 62162-2000 in PDF full version. Additional info + preview on request
Description in Russian:
Метод испытания модели заряженного устройства, индуцированного полем, для определения порогов выдерживаемости электростатического разряда микроэлектронных компонентов. Оригинальный стандарт IEC PAS 62162-2000 в PDF полная версия. Дополнительная инфо + превью по запросу
Document status:
Withdrawn
Format:
Electronic (PDF)
Page count:
14
Delivery time (for English version):
1 business day
Delivery time (for Russian version):
2 business days
SKU:
stiec08307
More technical details are being prepared for this document.